一种芯片检测工装
授权
摘要
本实用新型涉及芯片生产领域技术领域，具体为一种芯片检测工装。本实用新型，包括检测器，所述检测器的上表面安装有检测台，所述检测器的上表面安装有检测构件，所述检测构件位于检测台的上方，所述检测台的上表面设有限位结构，所述限位结构包括两个连接板，两个所述连接板的下表面与检测台固定连接，两个所述连接板的表面均滑动插设有滑杆，所述滑杆远离检测台的一端固定连接有握把，所述滑杆远离握把的一端固定连接有夹板，所述滑杆的圆弧面滑动连接有第一弹簧，所述第一弹簧的两端分别与连接板和夹板固定连接。解决了传统的芯片检测工装对芯片的限位效果较差，在检测的过程中，很容易由于芯片的晃动，对芯片的检测造成影响问题。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测工装
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123102667.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-07
授权号 ：
CN216646735U
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
李小莉
申请人 ：
上海倍拉机械设备有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区文翔路218号1楼E区115室
代理机构 ：
北京纪凯知识产权代理有限公司
代理人 ：
陆惠中
优先权 ：
CN202123102667.7
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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