一种开关测试治具
授权
摘要
本申请公开一种开关测试治具，属于开关测试技术领域。其包括治具主板以及带测试探针的测试模组，测试模组水平放置在治具主板上，且测试模组与治具主板之间通过垂直方向设置的T型凸起与水平方向设置的T型开孔相互卡设配合实现垂直方向上的卡设固定，同时，测试模组与治具主板之间通过水平方向设置的端子连接器公座与水平方向设置的端子连接器母座相互插拔式连接实现水平方向上的插拔固定与两者之间的电性连接。本技术方案，其可有效解决现有开关测试治具在新成品测试时造成的治具迭代容易给生产商带来很大的治具费用压力的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
一种开关测试治具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123107430.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216434252U
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
贺龙胜庞辉荣
申请人 ：
深圳市欧瑞博科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区学苑大道1001号南山智园A7栋7楼
代理机构 ：
深圳协成知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
章小燕
优先权 ：
CN202123107430.8
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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