胶厚测量仪
授权
摘要
本实用新型公开了胶厚测量仪,包括机座,所述机座的底端设置有测量台,所述测量台的侧部设置有机架,所述机架的顶端装设有显微相机组件,所述显微相机组件的底端设置有棱镜组件,所述显微相机组件的侧部设置有旋钮,所述旋钮的一端外壁套设有外筒,所述外筒的侧部镶嵌固定有镶嵌筒;本实用新型通过设计的外筒,外筒套设在旋钮的旋转端,对其进行隔离,保证其触碰到外筒时,外筒在旋钮的外壁上转动,不会带动旋钮转动,进而避免出现误调,影响测量精度,通过设计的连接插柱和连接插槽,将连接插柱插在连接插槽内,实现将外筒和旋钮连接,使其两者同步转动,进行调节。
基本信息
专利标题 :
胶厚测量仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123239706.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
CN216482832U
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
盛小艳周天奇
申请人 :
无锡奥考斯半导体设备有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座C座1701室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202123239706.8
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-05-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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