本实用新型提供一种集成电路的抗干扰性能检测设备；包括设备架，设备架的底部通过螺栓安装有抗干扰箱，且抗干扰箱的内部通过轴承活动连接有螺柱，螺柱的外壁螺纹连接有移动件，螺柱的一端焊接有手柄，移动件的顶部通过螺栓安装有抗干扰架，抗干扰架的外壁两侧均固定安装有测试杆，测试杆的外部固定绕设有电磁圈，设备架顶部的一侧焊接有调整箱，调整箱的内壁一侧通过螺栓安装有电机，且电机的端部焊接有驱动件，调整箱的顶部活动插接有竖直杆，本设计在抗干扰箱中的螺柱转动后，螺柱外部的移动件能够将抗干扰架和测试杆移动至集成电路附近，从而使集成电路进行抗干扰的检测，且抗干扰强度能改变。