全光谱高分辨率显微光谱分析集成系统
授权
摘要

本实用新型涉及一种全光谱高分辨率显微光谱分析集成系统,所述全光谱高分辨率显微光谱分析集成系统包括显微镜平台、载物台、光源系统、成像系统和电脑控制系统;所述显微镜平台具备透、反射双重照明光路和200‑2500nm宽光谱工作性能;所述载物台设置在所述显微镜平台上,所述载物台包括机械载物台、比色载物台和三维电泳载物台;所述光源系统为所述显微镜平台提供光源,所述光源系统包括发光装置和单色器;所述成像系统包括无色差物镜成像装置、数字显微相机成像装置和光谱成像装置。本实用新型可以实现对混合物的分离,利用200nm‑2500nm的全光谱照射,不仅可以分析透射特征,而且可以分析反射与荧光特征;不仅可以采集图像,而且可以分析目标点的光谱特征。

基本信息
专利标题 :
全光谱高分辨率显微光谱分析集成系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202123335387.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
CN216696070U
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
姜泉良
申请人 :
宿州学院
申请人地址 :
安徽省合肥市埇桥区朱仙庄镇二铺村
代理机构 :
合肥中谷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
洪玲
优先权 :
CN202123335387.0
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G02B21/26  G02B21/06  G02B21/36  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-06-07 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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