产品的不良原因分析方法、系统、终端设备和存储介质

授权

摘要

本发明提供了一种产品的不良原因分析方法、系统、终端设备和存储介质，其方法包括：获取目标产品在当前生产加工环节期间内，生产所述目标产品的所有加工设备的各项工艺参数；计算在所述当前生产加工环节期间内，所有工艺参数在良品区间和不良品区间对应的良品波动率和不良波动率；比较所述良品波动率和不良波动率的大小，根据比较结果得到引发所述目标产品不良的原因。本发明能够对工业制造产品的不良原因进行准确分析，便于对制造过程进行优化。

基本信息

专利标题：

产品的不良原因分析方法、系统、终端设备和存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114022059A

申请号：

CN202210010150.5

公开（公告）日：

2022-02-08

申请日：

2022-01-06

授权号：

CN114022059B

授权日：

2022-05-27

发明人：

王嘉毅李纲

申请人：

锱云（上海）物联网科技有限公司

申请人地址：

上海市浦东新区自由贸易试验区郭守敬路498号8幢19号楼3层

代理机构：

上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

杨用玲

优先权：

CN202210010150.5

主分类号：

G06Q10/06

IPC分类号：

G06Q10/06 G06K9/62