一种成像检测方法及系统
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种成像检测方法及系统,其包括如下步骤:使用单点控制光源对测量物进行照明,单点控制光源包括呈阵列式分布的多颗独立控制的灯珠;使用成像设备,拍摄测量物的图像;根据所拍摄的图像的亮度与预设的亮度,控制单点控制光源的各个灯珠的电压,直至所拍摄的图像的亮度与预设的亮度一致。本申请实施例提供了一种成像检测方法及系统,本申请提供的单点控制光源对测量物进行照明,成像设备对测量物进行成像,然后结合预设的亮度,对拍摄的图像的亮度进行分析,根据分析结果,控制单点控制光源的各个灯珠的电压,从而调整各个灯珠的亮度,通过少量有限次循环反馈,改善成像效果,达到应用场景取像亮度均匀或可控的不均匀性亮度的目的。

基本信息
专利标题 :
一种成像检测方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114324366A
申请号 :
CN202210028379.1
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-01-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
耿继新郑增强钟凡程慧东王稷龙
申请人 :
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司;上海精濑电子技术有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 :
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
邱云雷
优先权 :
CN202210028379.1
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  H05B47/11  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20220111
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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