基于透射成像的检测方法和检测装置以及检测系统
公开
摘要

本申请提供了基于透射成像的检测方法和检测装置以及检测系统。基于本申请,可以利用第一透射成像组件对待检对象处于第一检测位置的目标部位透射成像,第一透射成像组件产生的第一透射成像数据,可以用于调节第二透射成像组件所使用的透射成像参数配置集,并且,当该目标部位到达第二检测位置时,第二透射成像组件可以基于透射成像参数配置集对该目标部位透射成像,得到用于生成检测图像的第二透射成像数据。由于第二透射成像数据是基于与目标透射部位相适配的透射成像参数配置集产生的,因而有助于由其表征的目标部位的内部构造信息在检测图像中的呈现效果达到期望的清晰度和对比度等指标,从而有助于提高检测图像的成像质量。

基本信息
专利标题 :
基于透射成像的检测方法和检测装置以及检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563426A
申请号 :
CN202210172480.4
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵中玮冉友明吴剑锋刘晨
申请人 :
杭州睿影科技有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区丹枫路399号2号楼B楼312室
代理机构 :
北京德琦知识产权代理有限公司
代理人 :
陈舒维
优先权 :
CN202210172480.4
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01V5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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