一种球壳类零件的残余应力场测量装置与建模方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种球壳类零件的残余应力场测量装置与建模方法,测量装置包括经纬仪和稳定平台;所述经纬仪用于固定球壳类零件,并在测量过程中控制零件的运动轨迹与空间位置精度,同时输出测量微区的空间坐标信息;所述稳定平台用于稳定所述球壳类零件与所述经纬仪中各测量机构,保证测量过程中隔绝外界的干扰。本发明采用经纬仪实现在测量过程中控制零件的运动轨迹与空间位置精度,同时输出测量微区的空间坐标信息,并通过应力张量映射和坐标空间变换,实现薄壁球壳类零件的三维全场应力建模,从而为零件变形分析与车削工艺优化提供完整可靠的数据支持。
基本信息
专利标题 :
一种球壳类零件的残余应力场测量装置与建模方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384097A
申请号 :
CN202210031873.3
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2022-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孔金星张峥岳晓斌张晓峰杜东兴
申请人 :
中国工程物理研究院机械制造工艺研究所
申请人地址 :
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 :
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
林菲菲
优先权 :
CN202210031873.3
主分类号 :
G01N23/20
IPC分类号 :
G01N23/20 G01C1/02 G06F30/17
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20
申请日 : 20220112
申请日 : 20220112
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载