用于合并光路的光学主体系统
公开
摘要
本公开描述了一种用于合并光路的光学主体系统，包括：光学主体座、测距模块和光路调节模块，测距模块至少包括第一测距模块和第二测距模块，第一测距模块包括生成第一光束的第一发生单元和使第一光束出射的第一发射单元，第二测距模块包括生成第二光束的第二发生单元和使第二光束出射的第二发射单元；光路调节模块包括合并单元和多个反射单元，多个反射单元包括用于反射第一光束至预设路径的第一反射单元和用于反射第二光束至预设路径的第二反射单元，合并单元设置于预设路径，并配置为透射第一光束的同时反射第二光束以合并第一光束和第二光束。根据本公开，能够提供一种优化坐标测量仪器的结构尺寸并且简化光路结构的光学主体系统。
基本信息
专利标题 ：
用于合并光路的光学主体系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114353743A
申请号 ：
CN202210037683.2
公开（公告）日 ：
2022-04-15
申请日 ：
2022-01-13
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张和君冯福荣陈源廖学文
申请人 ：
深圳市中图仪器股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼
代理机构 ：
深圳舍穆专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
黄贤炬
优先权 ：
CN202210037683.2
主分类号 ：
G01C3/00
IPC分类号 ：
G01C3/00 G01C3/02 G02B27/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C3/00
视距测量；光学测距仪
法律状态
2022-04-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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