光学薄膜监控的光控光路系统
授权
摘要

本实用新型涉及一种光学薄膜监控的光控光路系统,包括发光光源、光纤导光器、光路准直透镜、光电转换器、锁相放大器和数据信号分析系统;所述发光光源通过光纤导光器与光路准直透镜相连接;所述光路准直透镜对应产品基板设置,并将光照射到镀膜的产品基板上;所述光电转换器接收镀膜过程中产品基板上的不同强度的光信号,并转换为电信号;所述锁相放大器接收发光光源的同步信号,并与光电转换器转换的电信号进行比较后送入数据信号分析系统。本实用新型可以根据对应厚度对镀膜过程进行监控。

基本信息
专利标题 :
光学薄膜监控的光控光路系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921347827.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-08-20
授权号 :
CN210220985U
授权日 :
2020-03-31
发明人 :
陈晓东
申请人 :
常州鑫立离子技术有限公司
申请人地址 :
江苏省常州市天宁区郑陆镇青松村
代理机构 :
常州唯思百得知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周颖洁
优先权 :
CN201921347827.4
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-03-31 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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