红外成像读出专用集成电路和红外成像仪
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种红外成像读出专用集成电路和红外成像仪,涉及专用集成电路领域。包括:环形振荡器、采样单元以及计数器;环形振荡器包括:多级反相器;环形振荡器接收信号电流产生脉冲信号,并将脉冲信号传输至计数器,计数器对脉冲信号进行计数,得到振荡次数;采样单元与多级反相器连接,用于采样多级反相器的相位,并传输至数字寄存器;其中,在每个模数转换周期结束时,基于采样信号,将多级反相器的相位以及振荡次数存储于所述数字寄存器中,并通过数字寄存器输出。本发明没有倍频操作,大大降低计数器和采样电路的功耗和复杂度。有效地减小模数转换电路的面积开销和功耗,极为适合在小像元、先进工艺下实现列级或者像素级ADC。

基本信息
专利标题 :
红外成像读出专用集成电路和红外成像仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414066A
申请号 :
CN202210056356.1
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
周晔鲁文高于善哲于敦山张雅聪陈中建
申请人 :
北京大学
申请人地址 :
北京市海淀区颐和园路5号
代理机构 :
北京润泽恒知识产权代理有限公司
代理人 :
苟冬梅
优先权 :
CN202210056356.1
主分类号 :
G01J5/48
IPC分类号 :
G01J5/48  H03K3/03  H03M1/12  H03K21/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/48
完全用视觉的方法
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 5/48
申请日 : 20220118
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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