本发明提供了VCSEL器件的纳秒级LIV测试系统及方法，方法包括：驱动信号源所发出的脉冲信号，以及可调稳压电源所输出的指定的步进电压，将所述脉冲信号与比较器中的基准信号进行比较，从而输出上升沿和下降沿更快的脉冲信号；基于上升沿和下降沿更快的脉冲信号，进入GaN驱动器进一步提升脉冲信号的输出强度，输出到GaN功率管，确保GaN功率管快速开启和关闭；基于上述电路驱动后所输出的光脉冲，获取光纤收集到的光脉宽波形，判断所得到的光脉宽与输入脉宽宽度是否相同；本发明克服了现有的基于源表的测试技术，只能实现微秒级测试，无法满足VCSEL当前在纳秒级使用下的测试难题，为VCSEL研发阶段和量产阶段的试验和测试提供了准确的技术参考。