一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法,该方法包括:S1、对VIS/NIR影像数据分别做主成分分析和波段组合,对第一主成分结果PC1*和波段组合结果BC10*分别做两种归一化;S2、利用第一主成分和波段组合的归一化结果构建代表两种阴影指数的SId图像和SIs图像;S3、利用Otsu算法分别对SId图像和SIs图像进行阈值分割,得到两幅阴影粗检测结果图像;S4、对SId和SIs的阴影检测结果,利用z‑score的绝对值进一步精化检测,得到阴影精检测结果;S5、利用阴影精检测结果和红外成像光谱仪VNIS探测的光谱数据修正VIS/NIR和SWIR波段光谱的阴影效应。与现有技术相比,本发明对红外成像光谱仪高光谱数据中存在的阴影具有较高的检测精度,并能够修正VIS/NIR以及SWIR波段光谱的阴影效应。
基本信息
专利标题 :
一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114463291A
申请号 :
CN202210071512.1
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-01-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王超李志远李佳曾祥隧许雄童小华谢欢冯永玖刘世杰叶真柳思聪金雁敏陈鹏
申请人 :
同济大学
申请人地址 :
上海市杨浦区四平路1239号
代理机构 :
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 :
赵志远
优先权 :
CN202210071512.1
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06T7/136 G06T5/00 G06K9/62 G01N21/3563 G06V10/77
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220121
申请日 : 20220121
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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