一种芯片用电压检测装置以及方法
公开
摘要

本发明提供了一种芯片用电压检测装置以及方法,包括检测台,所述检测台顶部设置有检测件、控制器、夹持芯片的夹紧机构、以及连接在检测件上的图像传感器与红外传感器,所述检测台底部设置有驱动机构。本发明通过此装置将电压检测与湿度结合在一起对芯片电压进行检测,计算出湿度与电压之间的变量关系,使得芯片的达标电压区间随着湿度的改变而改变,从而可有效地消除湿度对芯片电压检测带来的影响,提高芯片电压检测的精度,可将电压达标的芯片与电压未达标的芯片智能化分类投放,只需在A分区放置芯片即可对芯片进行检测,同时对电压达标的芯片进行检测,或者对电压未达标的芯片进行检测,人员投入较少,且工作效率较高。

基本信息
专利标题 :
一种芯片用电压检测装置以及方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114624565A
申请号 :
CN202210071967.3
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2022-01-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄允隆杨全谷申朱赞嘉
申请人 :
南京市智凌芯电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市中国(江苏)自由贸易试验区南京片区团结路99号孵鹰大厦C座17楼
代理机构 :
合肥东信智谷知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王燕
优先权 :
CN202210071967.3
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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