一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法，利用激光器发射一束光载波，送入待测电光强度调制器中，待测电光强度调制器的射频驱动电极上接第一信号源，偏置电极上接第二信号源，第一信号源输出频率为f1的正弦信号，第二信号源输出频率为fb的正弦信号，分别对光载波进行调制，待测电光强度调制器输出的光调制信号进入光电探测器进行拍频；控制第一信号源的输出功率并利用频谱分析模块提取拍频信号中频率为fb的信号幅度以及第一信号源输出功率，通过计算并对提取数据进行拟合分析获得待测电光强度调制器在f1频率处的调制系数和半波电压；控制第一信号源在不同驱动功率下扫描，重复上述运算即可获得待测电光强度调制器频率响应。
基本信息
专利标题 ：
一种电光强度调制器频率响应测试装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114389692A
申请号 ：
CN202210082379.X
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2022-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张尚剑徐映王梦珂何禹彤顾超宇刘永
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210082379.X
主分类号 ：
H04B10/079
IPC分类号 ：
H04B10/079 H04B10/54
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/079
申请日 : 20220124
申请日 : 20220124
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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