张力传感器的校准方法、装置、校准设备以及介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种张力传感器的校准方法、装置、校准设备以及介质，所述方法包括：获取控制参数，根据所述控制参数对所述张力传感器施加张力；根据所述控制参数确定施加至张力传感器的张力值，获取所述张力传感器输出的电信号；确定所述张力值和所述电信号的映射关系；将所述映射关系发送至所述张力传感器，以使所述张力传感器根据所述映射关系进行更新。本发明使得张力传感器对张力的检测更加准确。
基本信息
专利标题 ：
张力传感器的校准方法、装置、校准设备以及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114414142A
申请号 ：
CN202210089326.0
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2022-01-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郝亮
申请人 ：
苏州汇川控制技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中区越溪天鹅荡路52号
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
张莉
优先权 ：
CN202210089326.0
主分类号 ：
G01L25/00
IPC分类号 ：
G01L25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01L
测量力、应力、转矩、功、机械功率、机械效率或流体压力
G01L25/00
用于测量力、转矩、功、机械功率或机械效率的仪表的检测或校准
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01L 25/00
申请日 : 20220125
申请日 : 20220125
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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