用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法
实质审查的生效
摘要

本发明公开用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法,包括以下步骤:S1分割图像,根据图像信息熵将空间中低纹理结构化场景中的图像信息区分为高熵区域和低熵区域;S2对高熵区域使用严格的点特征进行特征提取;S3对低熵区域的图像中的线特征进行特征提取,并设定线几何约束规则对线特征进行筛选;S4图像融合:将高熵区域的点特征和低熵区域的线特征一起加入位姿优化。本发明算法特别适用于以火电厂锅炉水冷壁为代表的一类膜式壁环境,这类场景普遍具有低纹理结构化特征;相较标准PL‑SLAM算法,在该场景下本发明平均可减少30%多的数据处理量,定位速度提高20%。

基本信息
专利标题 :
用于膜式壁低纹理结构点线特征提取的SLAM改进算法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114494437A
申请号 :
CN202210090225.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
胥芳吴周鑫占红武
申请人 :
浙江工业大学
申请人地址 :
浙江省杭州市西湖区留下镇留和路288号
代理机构 :
杭州浙科专利事务所(普通合伙)
代理人 :
沈渊琪
优先权 :
CN202210090225.5
主分类号 :
G06T7/73
IPC分类号 :
G06T7/73  G06V20/10  G06V10/80  G06V10/771  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割;边缘检测
G06T7/70
确定物体或摄像机的姿态、方向
G06T7/73
使用基于特征的方法
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/73
申请日 : 20220125
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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