一种单像素成像的信号检验方法
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种单像素成像的信号检验方法，包括：单像素探测器根据被探测物体的大小设计采样矩阵并进行采样；将采样矩阵分成多组，每组包含C个采样矩阵，将每组的C个采样矩阵按照r行列的方式进行排列，针对每组的C个采样矩阵，对每一行的采样矩阵进行整合得到子矩阵
，对每一列的采样矩阵进行整合得到子矩阵
，并通过计算子矩阵
和子矩阵
各自的检验矩阵或投影矩阵来判断具体产生错误信号的采样矩阵所在位置，以实现在信号采集过程的检验。
基本信息
专利标题 ：
一种单像素成像的信号检验方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114449258A
申请号 ：
CN202210091027.0
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张健何睿清包永强魏峘余辉龙赵静覃翠
申请人 ：
南京工程学院
申请人地址 ：
江苏省南京市江宁区科技园弘景大道1号
代理机构 ：
南京钟山专利代理有限公司
代理人 ：
徐燕
优先权 ：
CN202210091027.0
主分类号 ：
H04N17/00
IPC分类号 ：
H04N17/00 H04N9/67 H04N9/31
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04N 17/00
申请日 : 20220126
申请日 : 20220126
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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