一种基于全卷积网络的芯片爬胶高度提取方法，包括：采集被测芯片同一时刻四个侧面的爬胶图像，建立爬胶图像数据集；对爬胶图像数据集进行扩充处理，获得扩充处理后的原始爬胶图像数据集；对原始爬胶图像数据集进行灰度值标注，将获取的爬胶高度图像分为爬胶部分和背景部分，获取标注爬胶图像数据集；将原始数据集按照预设比例随机划分为测试集和训练集，并将标注数据集进行相应划分；对划分后的图像基于全卷积网络进行训练，得到训练好的全卷积网络模型；将获取的爬胶图像输入训练好的全卷积网络，获取分割后的爬胶图像，根据爬胶边沿至芯片底边的距离确定爬胶高度。本发明解决了现有技术芯片爬胶高度的测量误差较大、测量精度较低的问题。