一种中子辐照前锆合金扫描电镜试样预处理方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种中子辐照前锆合金扫描电镜试样预处理方法,先对试样进行磨抛再进行酸洗,所述磨抛依次包括粗抛和精抛,所述粗抛为试样在不同颗粒度的砂纸上由粗到细依次磨制,磨制方式为每更换一次砂纸时,将试样旋转90°与旧磨痕成垂直方向继续磨制,直到旧磨痕完全消失,且新磨痕均匀一致为止。本发明所述方法通过对试样表面进行磨抛和化学腐蚀(酸洗),可最大程度的减小中子辐照注入面的粗糙度和应力层。此外,利用该方法制得的扫描电镜锆合金试样经中子辐照后可直接利用扫描电镜进行显微组织和成分分析,避免辐照后制氧的放射性威胁。

基本信息
专利标题 :
一种中子辐照前锆合金扫描电镜试样预处理方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509460A
申请号 :
CN202210151374.8
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张伟宁知恩伍晓勇吴璐王桢方忠强滕常青温榜周小钧信天缘匡慧敏毛建军辛虹阳斯嘉轩孔祥刚
申请人 :
中国核动力研究设计院
申请人地址 :
四川省成都市双流区长顺大道一段328号
代理机构 :
成都行之专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
唐邦英
优先权 :
CN202210151374.8
主分类号 :
G01N23/2202
IPC分类号 :
G01N23/2202  G01N1/32  G01N1/34  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2202
样品制备
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2202
申请日 : 20220218
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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