一种金属薄片试样端面磨抛和扫描电镜测试用夹具
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摘要

本实用新型涉及一种金属薄片试样端面磨抛和扫描电镜测试用夹具,该夹具基座的夹持槽内可同时并排放入多块薄片金相试样,基座中间螺纹孔内的紧定螺钉用于对金相试样进行正面压紧,夹持槽两侧设有两个夹块,基座两侧螺纹孔内的紧定螺钉用于对夹块进行固定,从而将两夹块压紧在金相试样的两侧,薄片金相试样被固牢牢固定在夹持槽内,磨抛时不会发生位移,受力更加均匀,保证磨抛效果,通过调节两夹块之间的距离还能夹持不同宽度的金相试样,夹具的适应性更强;该夹具可一次性装夹多块薄片金相试样,一次装夹便可满足磨制、腐蚀、机械抛光、金相观察、氩离子抛光和扫描电镜,夹具结构设计合理、使用高效便捷、加工容易、成本低。

基本信息
专利标题 :
一种金属薄片试样端面磨抛和扫描电镜测试用夹具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122474468.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-14
授权号 :
CN216669795U
授权日 :
2022-06-03
发明人 :
王霄张丽瞿伟侯渊嵇铖
申请人 :
内蒙古科技大学
申请人地址 :
内蒙古自治区包头市昆区阿尔丁大街7号
代理机构 :
郑州市华翔专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张爱军
优先权 :
CN202122474468.2
主分类号 :
G01N23/2204
IPC分类号 :
G01N23/2204  G01N23/2202  G01N23/2251  G01N1/24  B24B41/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/2204
样品支架;样品的输送方法
法律状态
2022-06-03 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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