一种基于存储器低功耗开关引脚的良率测试电路及方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于存储器低功耗开关引脚的良率测试电路及方法，包括DFT模式控制模块、MBIST控制模块、系统电路模块和控制引脚连接模块，DFT模式控制模块，用于控制并设定LPD引脚的值并提供测试模式和系统模式的模式之间的切换信号ALL_TEST；MBIST控制模块，用于控制并提供使能信号，并将测试模式切换至MBIST模式；测试模式包括MBIST模式；所述系统电路模块，用于控制并提供使能信号和LPD引脚的值；控制引脚连接模块，用于根据DFT模式控制模块、MBIST控制模块、系统电路模块生成的测试模式，插入测试回路，控制存储器相应引脚的连接及测试。本发明保证存储器的功能性引脚正常工作，提高良率。
基本信息
专利标题 ：
一种基于存储器低功耗开关引脚的良率测试电路及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114550811A
申请号 ：
CN202210151907.2
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
四川创安微电子有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1388号12栋11层6号
代理机构 ：
成都行之智信知识产权代理有限公司
代理人 ：
李林
优先权 ：
CN202210151907.2
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20220218
申请日 : 20220218
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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