基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统,通过对狭缝进行调制和采集光谱数据,利用曲线拟合和外推,最终获得分辨率增强的光谱。本发明的有益效果是,通过狭缝宽度调制和光谱外推,解决了光栅光谱仪分辨率和信噪比之间的矛盾,在不降低光谱仪信噪比的情况下,增强光谱仪分辨率。且本方法操作简单、成本低廉且无需标定光学传递函数,仅需调节光谱仪入射狭缝宽度,即可获得高分辨率高信噪比的光谱。

基本信息
专利标题 :
基于狭缝宽度调制的光栅光谱仪分辨率增强方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114485933A
申请号 :
CN202210162467.0
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
何晋平王宇韬
申请人 :
中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所
申请人地址 :
江苏省南京市板仓街188号
代理机构 :
南京知识律师事务所
代理人 :
李湘群
优先权 :
CN202210162467.0
主分类号 :
G01J3/04
IPC分类号 :
G01J3/04  G01J3/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/02
零部件
G01J3/04
狭缝装置
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 3/04
申请日 : 20220222
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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