一种缺陷位置确定方法、装置、存储介质及电子设备
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种缺陷位置确定方法,涉及人工智能技术领域,解决了现有技术中缺陷是否存在于产品指定区域的判断较为困难的问题,方法包括以下步骤:在目标图像上获取定位区域;根据定位区域和标定位置关系,获取目标图像上的检测区域;其中,标定位置关系为定位区域与目标图像上的检测区域的位置关系;根据检测区域和缺陷区域,获取缺陷区域所在的检测区域;其中,缺陷区域为目标图像获取的缺陷所在区域。如上实施方式,本申请可通过标定位置关系间接获取因污染而较难提取的检测区域,从而将检测区域的获取问题转换为与之对应的定位区域的获取,并最终达到判断出缺陷是否存在于产品的指定区域的目的。
基本信息
专利标题 :
一种缺陷位置确定方法、装置、存储介质及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114549465A
申请号 :
CN202210165132.4
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
成都数之联科技股份有限公司
申请人地址 :
四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
王志
优先权 :
CN202210165132.4
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/62 G06T7/73
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220218
申请日 : 20220218
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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