神经形态计算测评装置
实质审查的生效
摘要
本发明实施例公开了一种神经形态计算测评装置，神经形态计算测评装置包括忆阻器阵列测评电路与忆阻器阵列，所述忆阻器阵列测评电路包括主控制器、信号施加子电路、写权值子电路、读权值子电路及开关矩阵；所述开关矩阵分别与所述主控制器及所述忆阻器阵列连接，且所述主控制器还分别通过所述写权值子电路、所述信号施加子电路、所述读权值子电路与所述开关矩阵连接。神经形态计算测评装置能够对忆阻器阵列中每一个忆阻器的阻值进行精确调控与读取。实现忆阻器阵列阻值的精确调制，提高神经形态计算的精度，进而使得本申请的神经形态计算测评装置能够适用更多种类的忆阻器阵列的测试、训练及神经形态的计算。
基本信息
专利标题 ：
神经形态计算测评装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114550808A
申请号 ：
CN202210166998.7
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-02-23
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李清江王义楠刘海军徐晖刘桂青朱城和刘森李智炜刁节涛李晨辉陈长林宋兵于红旗王玺步凯王伟于新军王琴曹荣荣
申请人 ：
中国人民解放军国防科技大学
申请人地址 ：
湖南省长沙市开福区德雅路109号
代理机构 ：
北京超成律师事务所
代理人 ：
李骞
优先权 ：
CN202210166998.7
主分类号 ：
G11C29/50
IPC分类号 ：
G11C29/50 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/50
容限测试，例如，竞争、电压或电流测试
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/50
申请日 : 20220223
申请日 : 20220223
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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