一种应用于天文底片扫描仪运动姿态的测量装置及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种应用于天文底片扫描仪运动姿态的测量装置，包括待测的天文底片扫描仪、以及彼此相对设置的光电自准直仪和目标装置，目标装置包括平面楔镜以及与平面楔镜和天文底片扫描仪的运动平台均连接的三维调整机构。本发明还提供了应用于天文底片扫描仪运动姿态的测量方法。本发明的一种应用于天文底片扫描仪运动姿态的测量装置及方法，解决了天文底片扫描仪三维运动姿态不能同时测量的问题，实现运动姿态的同时测量。
基本信息
专利标题 ：
一种应用于天文底片扫描仪运动姿态的测量装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114413795A
申请号 ：
CN202210171935.0
公开（公告）日 ：
2022-04-29
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郑立新王亮亮商正君杨美婷杨静董姗赵建海于涌李骏艳
申请人 ：
中国科学院上海天文台
申请人地址 ：
上海市徐汇区南丹路80号
代理机构 ：
上海智信专利代理有限公司
代理人 ：
杨怡清
优先权 ：
CN202210171935.0
主分类号 ：
G01B11/26
IPC分类号 ：
G01B11/26 H04N1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-05-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/26
申请日 : 20220224
申请日 : 20220224
2022-04-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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