存储阵列故障检测方法、装置与电子设备
实质审查的生效
摘要
本公开提供一种存储阵列故障检测方法、装置与电子设备。方法包括:对待测存储阵列中多条第一位线连接的存储单元和多条第二位线连接的存储单元分别写入第一电压和第二电压,第一位线与第二位线交错相邻设置,第一电压大于第二电压;顺次控制多条字线开启以读取存储单元,其中控制多条字线开启包括控制每条字线开启预设时长后,控制连接第一位线或第二位线的感应放大器开启以读取存储单元,预设时长大于感应放大器对应的标准感应延迟时间;在存储单元的读取结果不等于其写入的第一电压或第二电压时,判断待测存储阵列存在同轴字线双位元电容漏电。本公开实施例可以较快测出连接同一条字线的相邻存储单元(同轴字线双位元)之间的漏电现象。
基本信息
专利标题 :
存储阵列故障检测方法、装置与电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114550799A
申请号 :
CN202210173542.3
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
楚西坤刘东第五天昊
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 :
李建忠
优先权 :
CN202210173542.3
主分类号 :
G11C29/12
IPC分类号 :
G11C29/12 G11C29/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20220224
申请日 : 20220224
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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