一种负载特性测试方法及电路
公开
摘要
本发明实施例公开了一种负载特性测试方法及电路。该方法包括：在负载特性测试阶段，控制主控开关处于导通状态，并获取负载特性测试阶段内各个时刻的待测负载两端的电压信号和流经待测负载的电流信号；随机选取负载特性测试阶段内两个不同时刻为第一时刻和第二时刻；根据第一时刻的电压信号和电流信号，确定待测负载的第一等效阻抗，根据第二时刻的电压信号和电流信号，确定待测负载的第二等效阻抗；根据第一等效阻抗和第二等效阻抗，确定待测负载的负载特性。上述技术方案方法简单，可以快速的检测出负载电路的负载特性，从而进一步提高工作效率，便于设备实现各种诊断及保护功能。
基本信息
专利标题 ：
一种负载特性测试方法及电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563685A
申请号 ：
CN202210173643.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘少彬陈永丰李康刘沁文孟成
申请人 ：
深圳英恒电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市龙华区民治街道民乐社区星河WORLD二期C栋1501-1502
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
赵迎迎
优先权 ：
CN202210173643.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/54 G01R31/52
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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