一种E-fuse熔断特性的测试电路及其测试系统
授权
摘要
本实用新型提供一种E‑fuse熔断特性的测试电路及其测试系统，测试电路包括开关控制器、电压源、至少一待测E‑fuse及开关模块；所述开关控制模块的输出端连接到开关模块；所述待测E‑fuse的一端均连接到一个固定电势端，另一端均连接到所述电压源，且每个待测E‑fuse连接有一个开关模块，用于通过该开关模块控制该待测E‑fuse所在测试电路的通断；该测试电路大大增加了可测DUT的数量，节省了测试芯片面积，同时采用了熔断电压、一个非熔断电压进行测试，可以判断E‑fuse熔断是否是由于测试引起的；当采用脉冲电压测试信号时，既避免了传统可寻址测试结构测试E‑fuse造成电流累积的隐患，也可进一步减小外围测试电路的面积占用。
基本信息
专利标题 ：
一种E-fuse熔断特性的测试电路及其测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922332578.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-23
授权号 ：
CN212514969U
授权日 ：
2021-02-09
发明人 ：
刘禹延吕圣凯杨璐丹方益
申请人 ：
杭州广立微电子股份有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区华星路99号东软创业大厦A407室
代理机构 ：
杭州丰禾专利事务所有限公司
代理人 ：
王静
优先权 ：
CN201922332578.8
主分类号 ：
G01R31/74
IPC分类号 ：
G01R31/74 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/74
保险丝的测
法律状态
2021-02-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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