本申请公开了一种面板缺陷区域提取方法、装置、设备及存储介质，通过获取包含缺陷的待测面板图像；提取所述待测面板图像的检测区；对所述检测区进行边缘检测，获得所述待测面板图像中的轮廓特征；将所述待测面板图像的轮廓特征与标准模板进行差集运算，获得缺陷轮廓；其中，所述标准模板基于若干无缺陷面板图像的检测区轮廓特征融合获得；对所述缺陷轮廓进行处理，获得所述缺陷轮廓的掩膜图。即通过若干无缺陷面板图像融合生成标准模板的方法，提高了对照模板的准确性，进而提高了对缺陷区域的标注及提取的精准度。