焦斑处超短激光脉冲宽度测量装置与方法
实质审查的生效
摘要

一种焦斑处超短激光脉冲宽度测量方法,包括沿光路依次放置的可变光阑,旋转渐变衰减反射镜,第二反射镜,最后通过离轴镜后进行聚焦,当焦点处的功率密度超过一个固定的阈值,将从焦点开始产生激光成丝现象,成丝后的激光通过一个漫反射板散射。通过成像相机的测量数据可以锁定该激光成丝状态;同时通过透镜收集激光成丝产生的荧光进入光谱仪,通过光谱仪的测量数据也可以锁定该激光成丝的状态。由于光束口径、焦斑大小、产生激光成丝的激光阈值功率密度等都是已知的,这样测量的超短激光脉冲宽度直接与产生激光成丝时的输入阈值能量成正比,通过严格的标定后,脉冲宽度等于产生激光成丝时的输入阈值能量乘以标定系数。本发明采用有别于传统的测量方法,能轻易的测量到打靶中靶点处的脉冲宽度。

基本信息
专利标题 :
焦斑处超短激光脉冲宽度测量装置与方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114544010A
申请号 :
CN202210176495.8
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨庆伟朱坪孙美智郭爱林康俊梁潇朱海东高奇谢兴龙朱健强
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 :
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张宁展
优先权 :
CN202210176495.8
主分类号 :
G01J11/00
IPC分类号 :
G01J11/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J11/00
测量单个光脉冲或光脉冲序列的特性
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 11/00
申请日 : 20220225
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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