一种超短脉冲激光系统中光谱相位的测量方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种超短脉冲激光系统中光谱相位的测量方法,属于超短脉冲激光技术领域,将待测超短脉冲激光分束形成小口径光束子束、大口径光束子束、第一参考光和第二参考光,将小口径光束子束与第一参考光进行空间光谱干涉,获取小口径光束子束的光谱相位,将大口径光束子束与第二参考光进行空间光谱干涉,获取大口径光束子束的光谱相位,根据小口径光束子束和大口径光束子束的光谱相位获取待测超短脉冲激光的光谱相位,本发明能够降低激光系统结构复杂程度,测量方便,简单高效,实用性强,有利于在超短脉冲激光系统中实际应用。
基本信息
专利标题 :
一种超短脉冲激光系统中光谱相位的测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414073A
申请号 :
CN202210250753.2
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-03-15
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
母杰左言磊曾小明王逍吴朝辉胡必龙王晓东李钊历
申请人 :
中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请人地址 :
四川省绵阳市绵山路64号
代理机构 :
北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
于晶晶
优先权 :
CN202210250753.2
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02 G01J3/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01J 9/02
申请日 : 20220315
申请日 : 20220315
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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