基于知识迁移的模糊推理系统小样本缺陷检测方法及装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于知识迁移的模糊推理系统小样本缺陷检测方法及装置,涉及缺陷检测技术领域。包括:获取多个待检测样本;将多个待检测样本输入到构建好的特征提取模型,得到样本的缺陷特征;其中,特征提取模型包括多个特定缺陷特征提取模型;样本的缺陷特征包括多个缺陷类型;将样本的缺陷特征输入到构建好的模糊逻辑系统检测模型,得到样本的缺陷检测结果;样本的缺陷检测结果为样本的缺陷是否为目标缺陷。本发明能够准确的提取出缺陷特征,构建知识迁移模型检测小样本的缺陷,提出了一种针对知识迁移的模糊推理系统,通过迁移知识构建模糊逻辑系统的各个部分,以模糊推理的方式实现知识迁移,从而实现小样本条件下的工业缺陷检测。

基本信息
专利标题 :
基于知识迁移的模糊推理系统小样本缺陷检测方法及装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114418125A
申请号 :
CN202210177982.6
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曲福明荆洪迪柳小波王培涛陈岩李鹏张英
申请人 :
北京科技大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路30号
代理机构 :
北京市广友专利事务所有限责任公司
代理人 :
张仲波
优先权 :
CN202210177982.6
主分类号 :
G06N20/00
IPC分类号 :
G06N20/00  G06N5/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06N
基于特定计算模型的计算机系统
G06N20/00
机器学习
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06N 20/00
申请日 : 20220224
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332