一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统
公开
摘要
本发明公开了一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统，其包括可并排放置若干半导体的测试台和测试台上方设置的用于测试半导体绝缘性的测试装置，测试装置包括位于测试台上方并排设置的若干蓄电池、位于若干蓄电池下方设置的若干电压表、与蓄电池和电压表分别通过导线电性连接的若干测试针。本发明通过设置的测试台和测试装置，利用若干测试口定位放置若干半导体，并利用测试轴同步带动每个测试口上方的四个测试针触压半导体，然后通过蓄电池为每个测试口处两外侧的测试针通入电流，再通过电压表测得中间两个测试针的电压，即可根据电阻率公式算得其绝缘性，其批量测试效率高，具有实用价值。
基本信息
专利标题 ：
一种用于液晶半导体绝缘性测试的绝缘特性测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563666A
申请号 ：
CN202210184308.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-02-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邓苑婷
申请人 ：
广州嘉逸电子科技有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市天河区大观中路横岗头5号自编C栋四楼西
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210184308.0
主分类号 ：
G01R31/12
IPC分类号 ：
G01R31/12 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/12
•测试介电强度或击穿电压
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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