评估微波辐射计亮温数据长时间序列稳定性的方法
公开
摘要
本发明被动微波遥感技术领域。针对微波辐射计的亮温漂移的影响因素多，传统方法难以较为准确地计算出亮温的漂移量的问题，本发明提供一种评估微波辐射计亮温数据长时间序列稳定性的方法，所述方法包括：按一定的时间尺度获取多频段微波辐射计的各通道海面观测亮温数据；将每个通道的全部亮温组成频率直方图；确定一个亮温上限阈值，选取所有小于该阈值的亮温，形成冷亮温集；利用冷亮温集中小于n％的亮温的平均值，使用多项式拟合外推0％对应的亮温，即最冷亮温；利用直线拟合，得到长时间序列的亮温漂移速度。本发明避免了从原因出发去计算漂移量的困难和复杂，能够高效和准确地评估微波辐射计亮温的长期稳定性得到的亮温长时间序列稳定性。
基本信息
专利标题 ：
评估微波辐射计亮温数据长时间序列稳定性的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608708A
申请号 ：
CN202210224949.4
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王士帅殷晓斌赵朝方何明耀
申请人 ：
中国海洋大学
申请人地址 ：
山东省青岛市崂山区松岭路238号
代理机构 ：
青岛中天汇智知识产权代理有限公司
代理人 ：
李浩
优先权 ：
CN202210224949.4
主分类号 ：
G01J5/90
IPC分类号 ：
G01J5/90
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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