项目测试处理方法、装置、设备及存储介质
公开
摘要
本公开涉及软件测试技术领域，尤其涉及一种项目测试处理方法、装置、设备及存储介质。方法包括：获取待测项目在目标测试阶段对应的源数据，确定所述目标测试阶段对应的测试属性，其中，所述源数据包括所述待测项目的项目管理数据、所述目标测试阶段对应的静态代码数据和所述目标测试阶段对应的测试数据中的至少一种；基于所述源数据计算所述测试属性的属性值；根据所述属性值，确定所述待测项目的测试结果。本公开用以解决现有技术中项目测试处理过程效率低，处理结果准确性差的缺陷，实现高效率地对项目测试进行处理，提高处理结果准确性。
基本信息
专利标题 ：
项目测试处理方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114610615A
申请号 ：
CN202210233935.9
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李一伟
申请人 ：
北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区北京经济技术开发区科创十一街18号院2号楼4层A402室
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
王治东
优先权 ：
CN202210233935.9
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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