芯片生产测试阶段的敏感信息写入方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种芯片生产测试阶段的敏感信息写入方法，该方法包括：建立测试设备与待写入芯片以及管理服务器的连接；接收芯片产生并加密的随机会话密钥，并将芯片标识和随机会话密钥的密文发送到管理服务器；接收管理服务器发送的第一密文和第二密文，第一密文包括计时初始值，第二密文包括服务器时间戳和待写入的敏感信息；解密第一密文和第二密文，使用第一密文解密的计时器初始值来设置芯片中的计时器初始值，若判断时间戳和芯片计时器计时值在预定义偏差范围内相等，则将敏感信息写入芯片中。本发明根据服务器时间戳和芯片内的计时值的比较结果来确定敏感信息是否最新和有效，从而保证了敏感信息写入的安全可靠，并且能够实现敏感信息的产生和写入测试的分离。
基本信息
专利标题 ：
芯片生产测试阶段的敏感信息写入方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114499847A
申请号 ：
CN202210068179.9
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李兵黄征刁永翔张辅云
申请人 ：
无锡众星微系统技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号无锡软件园天鹅座C座2101室
代理机构 ：
北京动力号知识产权代理有限公司
代理人 ：
董钢
优先权 ：
CN202210068179.9
主分类号 ：
H04L9/08
IPC分类号 ：
H04L9/08 H04L9/32 H04L9/40
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04L 9/08
申请日 : 20220120
申请日 : 20220120
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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