一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法
公开
摘要
本发明提供了一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法，包括步骤：制备透射电镜试样；采用透射电镜找到拟测量的第一晶粒和第二晶粒；第一次调节试样，第二次调节试样以及计算结果。本发明通过采用选区电子衍射，清晰的图像和衍射花样一一对应，具有更清晰的辨析度，结合球面角与双倾样品杆准确描述，简单易懂的数学计算快速精确给出相邻晶粒的位向差，在材料进行微观组织观察检测的同时快速测定取向差，具有操作简单、计算方便，直观易懂的优点。
基本信息
专利标题 ：
一种测量小角度晶界位向差的透射电镜方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609166A
申请号 ：
CN202210238815.8
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
陈文龙肖晓玲周明俊李扬石常亮
申请人 ：
广东省科学院工业分析检测中心
申请人地址 ：
广东省广州市天河区长兴路363号
代理机构 ：
佛山信智汇知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
王宇
优先权 ：
CN202210238815.8
主分类号 ：
G01N23/20058
IPC分类号 ：
G01N23/20058 G01N23/20016
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射
G01N23/20058
通过测量电子衍射，如低能电子衍射法或反射高能电子衍射法
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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