基于多特征约束的SAR图像配准方法、设备和介质
实质审查的生效
摘要

本发明实施例公开了一种基于多特征约束的SAR图像配准方法、设备和介质。其中方法包括:提取参考图像和待配准图像的比率梯度图和相位一致性特征图;根据所述比率梯度图和所述相位一致性特征图,确定所述参考图像和所述待配准图像的关键点;通过训练好的孪生密集连接网络,分别提取所述参考图像和所述待配准图像的关键点周围邻域图像块的深度特征;根据所述深度特征的匹配情况,预测图像配准结果,其中,所述图像配准结果包括:所述参考图像和所述待配准图像的匹配关键点对。本实施例提高SAR图像的配准精度和配准效率。

基本信息
专利标题 :
基于多特征约束的SAR图像配准方法、设备和介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114332182A
申请号 :
CN202210243784.5
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-03-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
程建达徐益豪项德良胡粲彬孙晓坤
申请人 :
北京化工大学
申请人地址 :
北京市朝阳区北三环东路15号北京化工大学
代理机构 :
北京中和立达知识产权代理有限公司
代理人 :
张可
优先权 :
CN202210243784.5
主分类号 :
G06T7/33
IPC分类号 :
G06T7/33  G06T7/73  G06V10/774  G06V10/74  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/10
分割;边缘检测
G06T7/30
确定图像校准的变换参数,例如图像配准
G06T7/33
使用基于特征的方法
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/33
申请日 : 20220314
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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