一种基于过象限检测的高精度大量程相位测量系统
公开
摘要
本发明公开了一种基于过象限检测的高精度大量程相位测量系统，该系统通过IQ混频器与A/D采样模块得到反映相位的正余弦模拟电压并以低采样率fs转化为数字量，FPGA通过arctan函数进行解算，得到每个采样点的相位值；过零比较器将IQ混频器输出的正余弦模拟电压转化为方波后，FPGA以高采样率fH对方波信号进行抓取，通过逻辑判断得到相位在四个象限中的变化情况；结合A/D采样模块得到的精准相位信息与过零比较器得到的象限变化信息，从而实现高精度兼具大量程的相位测量。本发明解决了arctan函数解调相位角度范围有限，仅可求得[‑π,π)的问题，可以在待测信号的相位剧烈变化、波动范围大的情况下真实地测出相位，并保证测量的精度。
基本信息
专利标题 ：
一种基于过象限检测的高精度大量程相位测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608627A
申请号 ：
CN202210248193.7
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王文睿吴豪杰孙兴林徐海童叶凌云
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 ：
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 ：
贾玉霞
优先权 ：
CN202210248193.7
主分类号 ：
G01D5/243
IPC分类号 ：
G01D5/243
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01D
非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试
G01D5/00
用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器
G01D5/12
采用电或磁装置
G01D5/243
影响交流量的相位或频率
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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