基于电容变化的产品检测系统及方法
公开
摘要
本发明提供一种基于电容变化的产品检测系统及方法，包括电容采集单元、MCU控制单元、电源控制单元、电源开关、测试单元、测试开关和开关控制单元，本发明通过电容采集单元通过单根连线或单点接触采集本该与其连接的待测产品的寄生电容，经过MCU控制单元计算后判断是否有待测产品插入，并在未插入时控制电源控制单元不输出电压给待测产品，并且测试单元和开关控制单元也不会工作，从而有效地避免热插拔现象的情况，能够有效地防止由于接触不稳定，造成电流异常，导致产品损毁，有效地提高产品测试通过率。
基本信息
专利标题 ：
基于电容变化的产品检测系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578173A
申请号 ：
CN202210266725.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭晓璋孙林
申请人 ：
合肥创发微电子有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期J2A栋19层1901室
代理机构 ：
昆明合众智信知识产权事务所
代理人 ：
朱世新
优先权 ：
CN202210266725.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R27/26 G05B19/042
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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