红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质
公开
摘要
本申请提供了红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质,包括:对原始去横竖纹算法进行算法优化,获取优化后去横竖纹算法;通过ARM架构中的NEON运算单元根据所述优化后去横竖纹算法对待处理红外图像进行去除横竖纹计算。不仅通过优化原始去横竖纹算法,降低了原始去横竖纹算法中较影响计算速度的判断计算,提高了运算效率,而且通过ARM架构中的NEON运算单元执行去横竖纹算法,取代了原来需要的FPGA计算模块,降低了设备的生产成本。
基本信息
专利标题 :
红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114627026A
申请号 :
CN202210305485.X
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2022-03-25
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄晟付航黄超
申请人 :
武汉高德智感科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区高新三路29号
代理机构 :
深圳峰诚志合知识产权代理有限公司
代理人 :
张腾
优先权 :
CN202210305485.X
主分类号 :
G06T5/00
IPC分类号 :
G06T5/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T5/00
图像的增强或复原
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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