基于差分结构的SAR ADC失调误差校正方法及电路
公开
摘要
本发明提供了一种基于差分结构的SAR ADC失调误差校正方法及电路，该校正方法包括：在校正逻辑模块的驱动下，通过对P辅助校正电容阵列和N辅助校正电容阵列中的辅助校正电容进行n次逻辑切换和判断，得到n位的校正结果信息；利用校正逻辑模块对所述校正结果信息进行编码，得到补偿方向信息和校正补偿值；所述补偿方向信息表征了补偿的类型；所述校正补偿值表征了补偿的电压值大小；在正常工作阶段，根据所述校正逻辑模块输出的所述校正补偿值和所述校正补偿方向信息，对ADC失调误差进行校正。
基本信息
专利标题 ：
基于差分结构的SAR ADC失调误差校正方法及电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114614821A
申请号 ：
CN202210325341.0
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-03-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
解滢澳
申请人 ：
深圳齐芯半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道麻布社区海城路3号前城滨海花园2栋C座2206
代理机构 ：
上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
周冬文
优先权 ：
CN202210325341.0
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10 H03M1/08 H03M1/06
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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