存储阵列的性能检测方法、系统、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种存储阵列的性能检测方法，包括：获取目标存储阵列的阵列数据和用户输入的测试参数；利用所述阵列数据和所述测试参数确定所述目标存储阵列的基础性能；通过预设参数对所述基础性能进行调整得到所述目标存储阵列的实际性能；其中，所述预设参数包括读写比例、缓存命中率、产品型号中的任一项或任几项的组合。本申请能够提高检测存储阵列性能的准确率。本申请还公开了一种存储阵列的性能检测系统、一种存储介质及一种电子设备，具有以上有益效果。
基本信息
专利标题 ：
存储阵列的性能检测方法、系统、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114490224A
申请号 ：
CN202210332666.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-03-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李强
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
耿苑
优先权 ：
CN202210332666.1
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20220331
申请日 : 20220331
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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