本发明公开了一种可重构芯片性能瓶颈检测平台、检测方法及电子设备，检测平台集成有测试用例、芯片模块特性文件、运行时间采集脚本、性能统计表以及性能分析脚本；其中，芯片模块特性文件包括芯片内各个模块的模块名，模块间的包含关系、模块执行的依赖顺序关系以及采集各个模块启动和结束时刻的采集方式。本发明实施例提供的方案，在验证阶段可以兼顾集成和单元性能测试，防止芯片开发中偏重单元模块性能而轻视芯片整体性能，致使芯片流片后整体性能不高，同时芯片设计人员无需过多的参与验证过程，降低芯片设计人员的工作量。