指纹芯片性能检测设备用固定结构
授权
摘要
本实用新型提供指纹芯片性能检测设备用固定结构，其特征在于包括底板、斜杆、固定块、增高块、连接块、压块、移动块、支撑柱、夹板、螺杆、旋转把手、固定板，所述底板顶部开设有安装槽，该安装槽设置在底部左侧，该安装槽内部安装有固定块，所述固定块右侧壁底部安装有增高块，所述固定块右侧壁开设有通槽，该通槽设置在增高块上方，该通槽内部安装有连接块，所述连接块右侧安装有压块，本实用新型通过设置压块、连接块以及移动块，实现了调节增高块与压块之间的距离，即夹持不同厚度的指纹芯片的功能，达到了稳定夹持指纹芯片，增加指纹芯片实用性的目的。
基本信息
专利标题 ：
指纹芯片性能检测设备用固定结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122222471.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-09-14
授权号 ：
CN216248226U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
刘利
申请人 ：
北京量传计量技术服务有限公司
申请人地址 ：
北京市大兴区北京经济技术开发区西环南路18号C座二层215室
代理机构 ：
天津英扬昊睿专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
吴扬
优先权 ：
CN202122222471.5
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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