一种激光芯片光电性能检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种激光芯片光电性能检测装置，包括设有第一安装座的底板，第一安装座上滑动安装有第一动力装置驱动的滑座，滑座上设有检测台；底板上还滑动安装有光强检测机构，光强检测机构的滑动方向与滑座的滑动方向垂直设置；位于滑座和光强检测机构之间的底板设有水平发散角检测机构，水平发散角检测机构的检测端设有第一光电传感器、并绕竖直轴心线进行摆动检测，位于第一安装座一端的底板设有竖直发散角检测机构，竖直发散角检测机构的检测端设有第二光电传感器、并绕水平轴心线进行摆动检测。实现了在同一台设备上完成光强、水平和竖直发散角的检测，无需多次定位和移动，简化了检测流程，减少了检测时间，提高了检测效率和检测精度。
基本信息
专利标题 ：
一种激光芯片光电性能检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021013413.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-05
授权号 ：
CN212082781U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
赵亮涂洪森王志刚刘才勇
申请人 ：
哈工大机器人南昌智能制造研究院
申请人地址 ：
江西省南昌市小蓝开发区富山一路1328号小蓝孵化中心2号楼
代理机构 ：
苏州金项专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
金星
优先权 ：
CN202021013413.0
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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