一种芯片检测装置的平台
授权
摘要
本实用新型提供一种芯片检测装置的平台。所述芯片检测装置的平台，包括：支撑台和柱形槽；固定板，所述固定板通过连接板固定于所述支撑台的顶部的背面；旋转组件，所述旋转组件设置于所述支撑台上，所述旋转组件包括固定箱和放置盘；安装板，所述安装板固定于所述固定板的底部的中间；转动组件，所述转动组件设置与所述安装板的背面；放置槽，所述放置槽开设于所述放置盘的顶部；放置组件，所述放置组件设置于所述放置槽的内部；卡接组件，所述卡接组件设置于所述放置槽的内部且位于所述放置组件的一侧。本实用新型提供的芯片检测装置的平台具有通过一个电机即可实现对不同芯片的位置进行调整，极大的节省了能源，节能环保，且结构稳定。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片检测装置的平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920714349.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-18
授权号 ：
CN210155263U
授权日 ：
2020-03-17
发明人 ：
游诗勇陈力
申请人 ：
福建福顺半导体制造有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市仓山区盖山投资区内（高旺村11号）
代理机构 ：
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
汤东凤
优先权 ：
CN201920714349.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-03-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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