一种高精度检测RFID芯片性能平台
授权
摘要
本实用新型涉及一种高精度检测RFID芯片性能平台，包括底台，所述底台顶部连接有放置台，所述放置台顶侧挖设有第一矩形凹槽，所述第一矩形凹槽内腔中设有第一螺纹杆，所述第一矩形凹槽顶部固定连接有定位框架，所述第一矩形凹槽内壁之间滑动连接有放置板，所述放置板顶部挖设有放置槽，所述放置台右侧设有第一调节钮，所述底台左侧设有第二调节钮，所述底台顶部挖设有第二矩形凹槽，所述第二矩形凹槽内部设有第二螺纹杆，所述第二矩形凹槽内壁之间滑动连接有支撑板，方便各种仪器在定位框架上方对芯片进行检测，使仪器检测的位置更加的精确，适用范围大大提高，实用性进一步加强。
基本信息
专利标题 ：
一种高精度检测RFID芯片性能平台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022370843.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-22
授权号 ：
CN212905292U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
陈孝骥
申请人 ：
上海贯众信息技术有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区元电路597号3幢3301室
代理机构 ：
上海互顺专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成秋丽
优先权 ：
CN202022370843.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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